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产品介绍
适合于对晶体进行杂质含量测试，其主要用途是对样品中包括Si、Fe、Mg、Ca、Ti、Na、Cu、Pb在内的多种个元素进行分析。
产品特点
■干扰少，精密读高，可以测量至ppb甚至ppt级的微量元素
■ 测试范围广，可以测量超过75个以上的元素
■ 分析速度快，每个样品的所有元素 2-6分钟
■ 可同时分析多种元素,尤其适合分析用其它方法难以测定的元素
■ 超高灵敏度的元素分析仪器
■ 能进行无人控制操作
■ 具有痕量检测能力
■ 极低的仪器背景至0.5-0.05cps
■ 体积小巧、功能全面
■ 可迅速获取同位信息，进行半定量分析
■ 的全谱同时测量能力和强大的抗干扰能力
■分辨率与灵敏度的配置，优异的稳定性以及无与伦比的同位素丰度比值测量精密度
■ 动态线性范围达到7个数量级以上
■ 每一个样品中需要测量的元素数量均不影响样品分析的整体速度
推荐工作条件
■ 室内环境温度15～30℃；相对湿度（全天候）不超过60%。
■ 室内无强磁妨碍仪器正常工作的震动。
■ 室内环境清洁、干燥、没有灰尘、无腐蚀性气体。
■测试仪是精密仪器，为防止酸、碱及其它腐蚀性气体、烟雾侵蚀仪器，必须和化学实验室分开；仪器光学系统对湿度、温度要求很高，实验室应安装空调及去湿设备。
技术指标
■ 检出限：ppt级
■ 样品分析能力：多元素分析，可以测量超过75个以上的元素，每个样品的所有元素 2-6分钟
■ 线性动态范围：108
■ 电源：100～240V(±10%)，50/60HZ，300VA
典型用户
南玻集团、洛阳中硅、新光硅业等
